BS ISO 17470:2004被替代

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

出版：British Standards Institution

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： BS ISO 17470:2004

發(fā)布時(shí)間：2004/9/29 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：British Standards Institution

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：20

標(biāo)準(zhǔn)備注

? British Standards Institution 2013

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 17470:2014

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

ISO 17470:2004 - Identical

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