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OVE/ONORM EN 60749-19:2011現行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 19: Die Shear Strength

出版：Osterreichisches Normungsinstitut

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基本信息
標準編號： OVE/ONORM EN 60749-19:2011
發布時間：2011/3/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Osterreichisches Normungsinstitut
標準頁數：8
標準簡介

2011 [01/03/2011]2003 [01/11/2003]

本標準替代的舊標準

OVE/ONORM EN 60749-19:2003

等同采用的國際標準

EN 60749-19:2003 - Identical