CEI EN 60749-5 Ed. 2 (2017)現行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 5: Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

標準編號： CEI EN 60749-5 Ed. 2 (2017)

標準類別：Standard

出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano

標準頁數：14

標準簡介

2ED 2017 [01/11/2017]1ED 2005 [01/10/2005]

標準備注

Classificazione CEI 47-44 (11/2005) Supersedes CEI EN 60749. (05/2008) 1ED 2005 Edition is valid until 15-05-2020. (01/2018)

本標準替代的舊標準

CEI EN 60749-5 Ed. 1 (2005)

等同采用的國際標準

EN 60749-5:2017 - Identical

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