EN 60749-8 : 2003現行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 8: SEALING

出版：European Committee for Standards - Electrical

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基本信息

標準編號： EN 60749-8 : 2003

標準類別：Standard

出版單位：European Committee for Standards - Electrical

標準頁數：0

標準簡介

Applies to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits). It determines the leak rate of semiconductor devices.

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