ISO 25498:2018現行
Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
出版：International Organization for Standardization
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： ISO 25498:2018
發布時間：2018/3/16 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：International Organization for Standardization
標準頁數：38
標準簡介
Describes the method of selected area electron diffraction (SAED) analysis using a transmission electron microscope (TEM) to analyse thin crystalline specimens.
等同采用的國際標準
BS ISO 25498 : 2010 - Identical
