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91/26546 DC : DRAFT JUN 1991被替代

AMENDMENT TO CECC 50 000 (ISSUE 4) GENERIC SPECIFICATION: DISCRETE SEMICONDUCTOR DEVICES - ADDITION OF SUBCLAUSE 4.3.5 `TEST METHODS FOR DISCRETE SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) VOLTAGE PULSES OF SHORT DURATION' (CECC(S

出版:British Standards Institution

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基本信息
標準編號: 91/26546 DC : DRAFT JUN 1991
標準類別:Draft
出版單位:British Standards Institution
標準頁數:0
標準簡介

Possible amendment to BS CECC 50000

替代本標準的新標準

BS CECC50000(1987) : 1987