CEI EN 60749-11 Ed. 1 (2004)現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 11: Rapid Change Of Temperature - Two-Fluid-Bath Method

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： CEI EN 60749-11 Ed. 1 (2004)

發(fā)布時間：2004/3/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：16

標(biāo)準(zhǔn)簡介

1ED 2004 [01/03/2004]

標(biāo)準(zhǔn)備注

Classificazione CEI 47-21 (04/2004) Supersedes CEI EN 60749. (05/2008)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

CEI EN 60749:2000

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-11:2002 - Identical

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