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BS IEC 61163-2:1998現(xiàn)行

Reliability stress screening. Electronic components

出版:British Standards Institution

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號: BS IEC 61163-2:1998
發(fā)布時間:1999/2/15 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別:Standard
出版單位:British Standards Institution
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù):32
標(biāo)準(zhǔn)簡介

Gives guidance on reliability stress screening techniques and methods for electronic components. Is not exhaustive due to the rapid development of the electronics industry.

標(biāo)準(zhǔn)備注

? British Standards Institution 2013

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

96/402257 DC

96/402257 DC : DRAFT MAY 1996

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 61163-2 Ed. 1.0 - Identical

IEC 61163-2 : 1.0 - Identical

IEC 61163-2 : 1.0 - Identical