OVE/ONORM EN 60749-7:2003被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 7: Internal Moisture Content Measurement And The Analysis Of Other Residual Gases

出版：Osterreichisches Normungsinstitut

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： OVE/ONORM EN 60749-7:2003

發(fā)布時(shí)間：2003/10/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Osterreichisches Normungsinstitut

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：10

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

2003 [01/10/2003]

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

OVE/ONORM EN 60749-7:2012

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-7 Ed. 1.0 - Identical

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