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DS EN 60749-4:2002被替代
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (Hast)
出版：Danish Standards
專家解讀視頻
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： DS EN 60749-4:2002
發(fā)布時(shí)間：2003/1/8 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Danish Standards
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：20
標(biāo)準(zhǔn)簡介
Specifies a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments.
替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)
等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)
EN 60749-4:2017 - Identical
