CEI EN 60749-3 Ed. 1 (2004)被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 3: External Visual Examination

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

標準編號： CEI EN 60749-3 Ed. 1 (2004)

發(fā)布時間：2004/3/1 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano

標準頁數：12

標準簡介

1ED 2004 [01/03/2004]

標準備注

Classificazione CEI 47-15 (04/2004) Supersedes CEI EN 60749. (05/2008)

本標準替代的舊標準

CEI EN 60749:2000

替代本標準的新標準

CEI EN 60749-3 Ed. 2 (2017)

等同采用的國際標準

EN 60749-3:2017 - Identical

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