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NEN EN ISO 3452-6:2006被替代

Non-destructive Testing - Penetrant Testing - Part 6: Penetrant Testing At Temperatures Lower Than 10 Degrees C

出版：Nederlands Normalisatie Instituut

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： NEN EN ISO 3452-6:2006
發(fā)布時間：2006/12/1 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Draft
出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：9
標(biāo)準(zhǔn)簡介

Defines the testing requirements particular to applications at low temperatures (lower than 10 degrees C) as well as the method for qualification of suitable testing products.

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

NEN EN ISO 3452-6:2009

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

ISO/DIS 3452-6 - Identical