OVE/ONORM EN 60749-13:2003現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 13: Salt Atmosphere

出版：Osterreichisches Normungsinstitut

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： OVE/ONORM EN 60749-13:2003

發(fā)布時間：2003/10/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Osterreichisches Normungsinstitut

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：8

標(biāo)準(zhǔn)簡介

2003 [01/10/2003]

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-13 Ed. 1.0 - Identical

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