CEI EN 60749-6 Ed. 2 (2017)現(xiàn)行

Dispositivi A Semiconduttore - Metodi Per Prove Climatiche E Meccaniche - Parte 6: Immagazzinamento Ad Alta Temperatura

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： CEI EN 60749-6 Ed. 2 (2017)

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：12

標(biāo)準(zhǔn)簡介

2ED 2017 [01/10/2017]1ED 2004 [01/03/2004]

標(biāo)準(zhǔn)備注

Classificazione CEI 47-17 (04/2004) Supersedes CEI EN 60749. (05/2008) 1ED 2004 Edition is valid until 07-04-2020. (12/2017)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

CEI EN 60749-6 Ed. 1 (2004)

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-6:2017 - Identical

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