DS EN 60749-43:2017現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 43: Guidelines For Ic Reliability Qualification Plans

出版：Danish Standards

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： DS EN 60749-43:2017

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Danish Standards

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：43

標(biāo)準(zhǔn)簡介

2017 [06/09/2017]

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-43:2017 - Identical

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