NF EN 62416:2010現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Hot Carrier Test On Mos Transistors

出版：Association Francaise de Normalisation

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： NF EN 62416:2010

發(fā)布時(shí)間：2010/11/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Association Francaise de Normalisation

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

2010 [01/11/2010]2008 PR [01/12/2008]

標(biāo)準(zhǔn)備注

Indice de classement: C80-202. PR NF EN 62416 December 2008. (12/2008)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

NF EN 62416:2008

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