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NF EN 60749-28 : 2013 PR現(xiàn)行

DISPOSITIFS A SEMICONDUCTEURS - METHODES D'ESSAI MECANIQUES ET CLIMATIQUES - PARTIE 28: ESSAI DE SENSIBILITE AUX DECHARGES ELECTROSTATIQUES (DES) - MODELE DE DISPOSITIF CHARGE PAR CONTACT DIRECT (DC-CDM)

出版：Association Francaise de Normalisation

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： NF EN 60749-28 : 2013 PR
標(biāo)準(zhǔn)類別：Projet
出版單位：Association Francaise de Normalisation
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：0
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