IEC 62415 Ed. 1.0現行
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
出版：International Electrotechnical Committee
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： IEC 62415 Ed. 1.0
發布時間：2010/5/19 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：International Electrotechnical Committee
標準頁數：22
標準簡介
IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.
等同采用的國際標準
BS EN 62415:2010 - Identical
