PN EN 60749-5:2017現行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 5: Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息

標準編號： PN EN 60749-5:2017

標準類別：Standard

出版單位：Polish Committee for Standardization

標準頁數：20

標準簡介

2017 [26/10/2017]2005 [30/08/2005]2003 [15/12/2003]

本標準替代的舊標準

PN EN 60749-5:2005

等同采用的國際標準

IEC 60749-5 : 2.0 - Identical

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