BS ISO 25498:2010被替代
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
出版：British Standards Institution
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基本信息
標準編號： BS ISO 25498:2010
發布時間：2010/6/30 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：British Standards Institution
標準頁數：40
標準簡介
Defines the method of selected area electron diffraction (SAED) analysis using a transmission electron microscope (TEM) to analyse thin crystalline specimens. This document applies to test areas of micrometres and sub-micrometres in size.
標準備注
? British Standards Institution 2013
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