DS EN 60749-5:2003被替代
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 5: Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test
出版：Danish Standards
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： DS EN 60749-5:2003
發布時間：2003/8/11 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Danish Standards
標準頁數：16
標準簡介
Specifies a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.
替代本標準的新標準
等同采用的國際標準
EN 60749-5:2017 - Identical
