CEI EN 60749-43 : 1ED 2018現(xiàn)行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 43: GUIDELINES FOR IC RELIABILITY QUALIFICATION PLANS

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： CEI EN 60749-43 : 1ED 2018

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：Standard

出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

Provides guidelines for reliability qualification plans of semiconductor integrated circuit products (ICs).

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-43 : 2017 - Identical

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