DS EN 60749-36:2003現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 36: Acceleration, Steady State
出版：Danish Standards
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： DS EN 60749-36:2003
發布時間：2003/8/11 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Danish Standards
標準頁數：12
標準簡介
Specifies a test for determining the effects of constant acceleration on cavity-type semiconductor devices.
等同采用的國際標準
EN 60749-36:2003 - Identical
