DIN 41792-6 (1981-05)被替代

Low Power Semiconductor Devices; Measuring Methods; Field Effect Transistors

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： DIN 41792-6 (1981-05)

發(fā)布時間：1981/5/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡介

81 [01/05/1981]

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

DIN IEC 60747-8 (1989-08)

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60147-2G - Similar

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