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IEC 60147-2H : 1976被替代

ESSENTIAL RATINGS AND CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR DEVICES AND GENERAL PRINCIPLES OF MEASURING METHODS - GENERAL PRINCIPLES OF MEASURING METHODS - EIGHTH SUPPLEMENT

出版：International Electrotechnical Committee

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： IEC 60147-2H : 1976
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：Standard
出版單位：International Electrotechnical Committee
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0
替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60747-1 : 2.1

IEC 60747-6 : 3.0

IEC 60747-2 : 3.0