DS EN 60749-13:2002現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 13: Salt Atmosphere
出版：Danish Standards
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： DS EN 60749-13:2002
發布時間：2003/1/8 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Danish Standards
標準頁數：16
標準簡介
Specifies a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion.
等同采用的國際標準
EN 60749-13:2002 - Identical
