NEN EN IEC 62047-3:2006現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Micro-Electromechanical Devices - Part 3: Thin Film Standard Test Piece For Tensile Testing

出版：Nederlands Normalisatie Instituut

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： NEN EN IEC 62047-3:2006

發(fā)布時(shí)間：2006/10/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：15

標(biāo)準(zhǔn)簡介

2006 [01/10/2006]

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 62047-3 Ed. 1.0 - Identical

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