DS EN 60749-25:2004現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 25: Temperature Cycling
出版：Danish Standards
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： DS EN 60749-25:2004
發布時間：2004/3/15 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Danish Standards
標準頁數：20
標準簡介
Specifies a test procedure for determining the ability of semiconductor devices and components and/or board assemblies to withstand mechanical stresses induced by alternating high and low temperature extremes.
等同采用的國際標準
EN 60749-25:2003 - Identical
