PN EN 60749-32:2005現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 32: Flammability Of Plastic-encapsulated Devices (externally Induced)

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： PN EN 60749-32:2005

發(fā)布時(shí)間：2010/12/15 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：Standard

出版單位：Polish Committee for Standardization

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：7

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

2005 AMD 1 2010 [15/12/2010]2005 [22/12/2005]2004 [15/06/2004]

標(biāo)準(zhǔn)備注

AMD 1 2010 is only available in English. (12/2010)

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-32 Ed. 1.0 - Identical

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