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IEC 61189-2:1997/AMD1:2000被替代

Amendment 1 - Test methods for electrical materials, interconnection structures and assemblies - Part 2: Test methods for materials for interconnection structures

出版：International Electrotechnical Committee

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： IEC 61189-2:1997/AMD1:2000
出版單位：International Electrotechnical Committee
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：37
替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

IEC 61189-2:2006

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

EN 61189-2:1997/A1:2000 -