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DIN EN 60749-28 : 2012現(xiàn)行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 28: ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING - CHARGED DEVICE MODEL (CDM) - DEVICE LEVEL (IEC 60749-28:2017)

出版：Verband Deutscher Elektrotechniker

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： DIN EN 60749-28 : 2012
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Verband Deutscher Elektrotechniker
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：0
等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-28 : 1ED 2017 - Identical

EN 60749-28 : 2017 - Identical