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NEN EN IEC 62047-2:2006現行

Semiconductor Devices - Micro-Electromechanical Devices - Part 2: Tensile Testing Method Of Thin Film Materials

出版：Nederlands Normalisatie Instituut

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基本信息

標準編號： NEN EN IEC 62047-2:2006

發布時間：2006/10/1 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut

標準頁數：25

標準簡介

2006 [01/10/2006]

等同采用的國際標準

IEC 62047-2 Ed. 1.0 - Identical

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