SS EN 15991 Ed. 1 (2011)被替代
Testing Of Ceramic And Basic Materials - Direct Determination Of Mass Fractions Of Impurities In Powders And Granules Of Silicon Carbide By Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometry (Icp Oes) With Electrothermal Vaporisation (Etv)
出版：Standardiserings-Kommissionen I Sverige
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： SS EN 15991 Ed. 1 (2011)
發布時間：2011/2/9 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Standardiserings-Kommissionen I Sverige
標準頁數：0
標準簡介
Specifies a method for the determination of the trace element concentrations of Al, Ca, Cr, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, V and Zr in powdered and granular silicon carbide.
替代本標準的新標準
等同采用的國際標準
EN 15991:2015 - Identical
