CEI 56-36 Ed. 1 (2000)現(xiàn)行

Reliability Stress Screening - Part 2: Electronic Components

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： CEI 56-36 Ed. 1 (2000)

發(fā)布時間：2000/3/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：38

標(biāo)準(zhǔn)簡介

1ED 2000 [01/03/2000]

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 61163-2 Ed. 1.0 - Identical

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