ASTM F219-96(2002)被替代

Standard Test Methods of Testing Fine Round and Flat Wire for Electron Devices and Lamps

出版：American Society for Testing and Materials

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： ASTM F219-96(2002)

發(fā)布時間：1996/12/10 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：American Society for Testing and Materials

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：3

標(biāo)準(zhǔn)簡介

CONTAINED IN VOL. 10.04, 2006Covers testing of fine wire, flat or round, approximately 0.010 in. (0.25 mm) and smaller in diameter or thickness.

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

ASTM F219-96

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

ASTM F219-96(2009)

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