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IEC 60512-16-7 Ed. 1.0現(xiàn)行

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements Part 16-7: Mechanical tests on contacts and terminations - Test 16g: Measurement of contact deformation after crimping

出版：International Electrotechnical Committee

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專家解讀視頻

基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： IEC 60512-16-7 Ed. 1.0
發(fā)布時(shí)間：2008/7/21 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：International Electrotechnical Committee
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：13
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

IEC 60512-16-7:2008 details a standard test method to assess the effectiveness of contacts to resist deformation (damage) from crimping operations.

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60512-8 Ed. 3.0

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

BS EN 60512-16-7:2008 - Identical

NF EN 60512-16-7:2007 - Identical

PN EN 60512-16-7:2008 - Identical

NEN EN IEC 60512-16-7:2008 - Identical

I.S. EN 60512-16-7:2008 - Identical