NFC 26 290 AMD (1986)被替代

Methods Of Testing Insulated Materials. Determination Of The Effects Of Ionizing Radiation On Insulating Materials

出版：Association Francaise de Normalisation

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： NFC 26 290 AMD (1986)

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：Standard

出版單位：Association Francaise de Normalisation

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：45

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

AMD 86

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

NFC 26 290-2:1993

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 544-3 Ed. 1.0 - Identical

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