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NEN EN IEC 60749-39:2007現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 39: Measurement Of Moisture Diffusivity And Water Solubility In Organic Materials Used For Semiconductor Components

出版：Nederlands Normalisatie Instituut

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： NEN EN IEC 60749-39:2007
發(fā)布時(shí)間：2007/11/1 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：Standard
出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：19
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

2007 [01/11/2007]

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-39 Ed. 1.0 - Identical

EN 60749-39:2006 - Identical