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DS EN 60749-26:2006被替代
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 26: Electrostatic Discharge (Esd) Sensitivity Testing - Human Body Model (Hbm)
出版：Danish Standards
專家解讀視頻
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： DS EN 60749-26:2006
發(fā)布時(shí)間：2006/12/21 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Danish Standards
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：20
標(biāo)準(zhǔn)簡介
Defines a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined human body model (HBM) electrostatic discharge (ESD).
替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)
等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)
EN 60749-26:2014 - Identical
