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IEC 60749-5 : 1.0已作廢

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 5: STEADY-STATE TEMPERATURE HUMIDITY BIAS LIFE TEST

出版：International Electrotechnical Committee

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基本信息
標準編號： IEC 60749-5 : 1.0
發布時間：2003/1/17 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：International Electrotechnical Committee
標準頁數：22
替代本標準的新標準

IEC 60749-5 : 2.0