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IEC PAS 62205 : 1.0被替代

HIGH TEMPERATURE STORAGE LIFE

出版:International Electrotechnical Committee

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專家解讀視頻

基本信息
標準編號: IEC PAS 62205 : 1.0
發布時間:2000/11/28 0:00:00
標準類別:Standard
出版單位:International Electrotechnical Committee
標準頁數:10
標準簡介

Aims to determine the effect on solid state electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered destructive and therefore, is applicable for device qualification.

替代本標準的新標準

IEC 60749-6 : 2.0

等同采用的國際標準

NEN NPR IEC/PAS 62205 : 2001 - Identical

NEN NPR IEC/PAS 62205 : 2001 - Identical