當(dāng)前位置： 首頁 > 標(biāo)準(zhǔn)詳情頁

NF EN 60749-6:2002現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 6: Storage At High Temperature

出版：Association Francaise de Normalisation

獲取原文如何獲取原文？問客服獲取原文，即可享受本標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)變更提醒服務(wù)！

專家解讀視頻

基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： NF EN 60749-6:2002

發(fā)布時間：2002/12/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Association Francaise de Normalisation

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：7

標(biāo)準(zhǔn)簡介

Determines and test the effect on all semiconductor electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied.

標(biāo)準(zhǔn)備注

Indice de classement: C96-022-6. (03/2003) Supersedes NF EN 60749. (06/2007)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

NF EN 60749:1999

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN 60749-6 : 2016 - Identical

国产精品久久久在线观看_亚洲免费观看视频网站_国产盗摄视频一区二区三区_久久久国产一级 - 日本在线观看一区