CEI EN 60749-26 : 2016現(xiàn)行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 26: ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING - HUMAN BODY MODEL (HBM)

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： CEI EN 60749-26 : 2016

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：Standard

出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

FASC 14873 E.

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-26 : 3.0 - Identical

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