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BS EN IEC 60749-26 : 2018現(xiàn)行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 26: ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING - HUMAN BODY MODEL (HBM) (IEC 60749-26:2018)

出版：British Standards Institution

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： BS EN IEC 60749-26 : 2018
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：British Standards Institution
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：0
標(biāo)準(zhǔn)簡介

Defines the procedure for testing, evaluating, and classifying components and microcircuits according to their susceptibility (sensitivity) to damage or degradation by exposure to a defined human body model (HBM) electrostatic discharge (ESD).

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-26 : 3.0 - Identical