00/122580 DC : DRAFT JUL 2000被替代

BS ISO 15632 - MICROBEAM ANALYSIS - INSTRUMENTAL SPECIFICATION FOR ENERGY DISPERSIVE X-RAY SPECTROMETERS WITH SEMICONDUCTOR DIODE DETECTORS

出版：British Standards Institution

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基本信息

標準編號： 00/122580 DC : DRAFT JUL 2000

標準類別：Draft

出版單位：British Standards Institution

標準頁數：0

替代本標準的新標準

BS ISO 15632 : 2012

等同采用的國際標準

ISO/DIS 15632 : 60.00 (2012) - Identical

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