CEI EN 60749-19:2004現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 19: Die Shear Strength
出版：Comitato Elettrotecnico Italiano
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： CEI EN 60749-19:2004
發布時間：2011/11/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano
標準頁數：14
標準簡介
2004 AMD 1 2011 [01/11/2011]1ED 2004 [01/11/2004]
標準備注
Classificazione CEI 47-32. (01/2005) Supersedes CEI EN 60749. (05/2008)
等同采用的國際標準
EN 60749-19:2003 - Identical
