CEI EN 60749-32:2004現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 32: Flammability Of Plastic-Encapsulated Devices (Externally Induced)

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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專家解讀視頻

基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： CEI EN 60749-32:2004

發(fā)布時(shí)間：2011/11/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：Standard

出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：14

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

2004 AMD 1 2011 [01/11/2011]1ED 2004 [01/11/2004]

標(biāo)準(zhǔn)備注

Classificazione CEI 47-35. (01/2005) Supersedes CEI EN 60749. (05/2008)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

CEI EN 60749-32 Ed. 1 (2004)

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-32:2003 - Identical

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