NF ISO 23833:2008現(xiàn)行

Microbeam Analysis - Electron Probe Microanalysis (epma) - Vocabulary

出版：Association Francaise de Normalisation

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： NF ISO 23833:2008

發(fā)布時(shí)間：2008/9/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Association Francaise de Normalisation

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：59

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

2008 [01/09/2008]2007 PR [01/09/2007]

標(biāo)準(zhǔn)備注

Indice de classement: X21-009. PR NF ISO 23833 September 2007. (10/2007)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

NF ISO 23833:2007

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

ISO 23833:2006 - Identical

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