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J STD 002 : D被替代

SOLDERABILITY TESTS FOR COMPONENT LEADS, TERMINATIONS, LUGS, TERMINALS AND WIRES

出版:Institute of Printed Circuits

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專家解讀視頻

基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號: J STD 002 : D
標(biāo)準(zhǔn)類別:Standard
出版單位:Institute of Printed Circuits
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù):0
標(biāo)準(zhǔn)簡介

Describes test methods, defect definitions, acceptance criteria, and illustrations for assessing the solderability of electronic component leads, terminations, solid wires, stranded wires, lugs, and tabs.

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

EIA 364-52 : B2009

EIA 638 : 1995

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

IPC J-STD-002E : 2017