NF EN 60749-43:2016被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 43: Guidelines For Ic Reliability Qualification Plans

出版：Association Francaise de Normalisation

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： NF EN 60749-43:2016

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：MiscPublication

出版單位：Association Francaise de Normalisation

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

2016 PR [01/11/2016]

標(biāo)準(zhǔn)備注

Indice de classement: C96-022-43PR. PR NF EN 60749-43 November 2016. (01/2017)

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

NF EN 60749-43:2017

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